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환경분석센터 Environmental Analysis Center

광학기기 및 기타 분석기기

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원자현미경(AFM) Atomic Force Microscope

■ Park Systems, XE-100
■ 팁과 시료표면의 원자 사이에 작용하는 반데르발스 힘을 검출하여 시료의 표면을 스캔, cantilever의 팁 끝을 이용하여 원자간의 힘을 광학적 방법으로 원자 수준까지 측정 가능
■ 응용 분야
   - 금속 합성물질의 표면 특성 관찰
   - 고분자 중합체의 표면 특성 관찰



고분해능 카메라 고분해능 투과전자현미경(TEM) High Resolution Transmission Electron Microscope

■ Gatan/Jeol, BETA 006882/JEM-2100
■ 투과전자현미경은 고진공 상태에서 가속된 전자선을 광원으로 사용하며, 입사된 전자선은 시료와 상호작용을 거쳐 결정구조, 결정결함, 회절도형에 대해 분석 가능
■ 응용 분야
   - 결정구조, 결정결함, 회절도형 측정
   - 나노물질 및 고분자 중합체의 형태 및 크기 측정



전계방출형 주사전자현미경(SEM) Field Emission Scanning Electron

■ Hitachi, S4700
■ 가속된 전자빔을 시료에 조사할 때, 시료의 표면에서 발생하는 2차 전자, 후방산란전자를 수집하여 이미지를 형상하여 미세 구조 분석 하는 장비
■ 응용 분야
   - 나노물질 및 고분자 중합체의 형태 및 크기 측정
   - X선 이용 원소 분석



나노입도 및 제타전위측정기(DLS) DLS particle size ananlyzer / Zeta potential analyzer

■ Malvern, Nano-ZS
■ 브라운 운동을 하는 입자에 레이저광을 조사하면 입자의 운동속도에 따라 위상이 다른 빛의 산란이 발생, 이를 시간에 따른 변동을 분석하여 입도를 측정
■ 전기영동법을 활용한 제타전위 측정 가능
■ 응용 분야
   - 나노입자 생산공정 개발
   - 표면의 제타전위 측정
   - 단백질 제제의 안정성 연구



전자상 자성 공명 분광기(ESR) Electron Spin Resonance Spectrometer

■ Jeol, JES-FA200
■ 외톨이전자(unpaired electron)를 가지고 있는 시료를 자기장 속에 넣고 마이크로파를 조사하면 시료는 고유의 전자스핀 에너지와 일치하는 마이크로파를 흡수 또는 방출, 이때의 공명 신호를 해석하여 분자의 구조적 특성으로부터 기인하는 물리 또는 화학적 특성측정
■ 응용 분야
   - 자성체, 레이저 재료, 반도체 특성, 고분자 특성, 광섬유 특성 연구
   - 결정장, 광학특성, 결정의 결점, 전.반도체의 전도 전자 등 연구
   - 식품의 방사선 효과, 고고학, 생물체의 방사선 영향 등 연구



중량식 흡착장비의 분광분석 시스템(DVS) Dynamic Vapor Sorption Analyzer

■ Surface Measurement System, DVS Advantage
■ 물질의 수분을 흡수하고 방출하는데 따라 수분활성도 변화를 측정 하는 장비로 샘플 주변의 증기 농도를 변화시키고 이것이 생성하는 질량 변화를 측정하며, 수증기가 가장 일반적이고 광범위한 유기 용제를 사용가능
■ 응용 분야
   - 식품 성분의 안정성 및 경화
   - 소수성 약제의 수분 흡착
   - 약제 안정성, 건조 및 열 분해
   - 다공성 물질의 흡착



자외선 분광광도계(UV) UV Spectrophotometer

■ HUMAS, HS 3300
■ 자외선부터 근적외선 영역까지의 빛을 시료에 흡수, 투과 또는 반사시켜 그 값을 측정하는 장비로, 시료의 광학적 성질을 알 수 있으며 미지물질의 정량분석까지 가능
■ 응용 분야
- TN, TP, NH4-N, NO3-N 등의 수중 부영양화 유발 물질 분석
- 클로로포름 등 흡광법에 기조한 성분 분석
- 미생물의 수 및 농도 측정
- DNS 법을 이용한 단당류 측정


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